GB/T 2423.25-2008/IEC 60068-2-40:1976 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Z/AM∶低溫/低氣壓綜合試驗

1  引言

1.1  概述

GB/T 2423的本部分是關于散熱和非散熱試驗樣品低溫（溫度漸變或突變）和低氣壓綜合試驗，見8.2.2和8.2.8。

本試驗目的是確定元件、設備和其他產品對其貯存和使用中遇到的低溫-低氣壓綜合環(huán)境的適應性。

本綜合試驗通常只有在試驗樣品進行單一環(huán)境試驗不能揭示綜合環(huán)境影響時使用。本部分規(guī)定的試驗程序只適用于在試驗期間能夠達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。

本部分規(guī)定的試驗方法一次只能試驗一個散熱試驗樣品。

1.2  低氣壓

本試驗程序適用于氣壓大于1kPa的壓力試驗。當氣壓小于或等于1kPa時，可不必考慮試驗程序的內容。

本部分沒有指明高度、壓力和溫度的關系。三者的關系見專門標準。

1.3  溫度

1.3.1 GB/T 2423.1試驗A中有關非散熱試驗樣品和散熱試驗樣品試驗應用對比的指導適用于本部分。

注∶非散熱試驗樣品的定義按GB/T2421相關的規(guī)定，不應在低氣壓下測量其最熱點的溫度。

1.3.2 GB/T 2423.1試驗 A中散熱試驗樣品應該優(yōu)先在無強迫空氣循環(huán)的試驗箱中進行試驗。

2  目的

提供標準試驗程序以確定元件、設備或其他產品在低溫/低氣壓綜合環(huán)境使用和/或貯存的適應性。

3  一般說明

本試驗是GB/T2423.1試驗Ab或試驗Ad和GB/T2423.21試驗M的綜合。

試驗中，試驗樣品首先應經受相關規(guī)范規(guī)定的嚴酷度等級的低溫試驗。如果試驗過程中試驗樣品要工作，則要對其進行檢測，以保證試驗樣品能夠正常工作。然后在溫度保持規(guī)定值的情況下，將試驗箱壓力降到相關規(guī)范規(guī)定的試驗壓力。將此溫度、壓力條件保持規(guī)定時間。